HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀

HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測(cè)，包括食品煙草軟包裝鋁膜、渦流鍍層、蒸發(fā)鋁膜、微薄金屬膜、硅片蒸鋁層、 聲表面波鋁膜、 半導(dǎo)體鋁膜、 車(chē)燈鋁膜、塑料薄膜鋁膜等，配置大屏液晶，觸摸屏操作，該機(jī)性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957，現(xiàn)已升為觸摸屏操作。食品行業(yè)鍍鋁層一般為200-500埃之間。

工作原理:

鋁膜測(cè)試儀利用渦流原理制造，即被測(cè)蒸鋁層靠近高頻激磁磁場(chǎng)時(shí)，感應(yīng)產(chǎn)生渦電流，因而產(chǎn)生渦流磁場(chǎng)，此渦流磁場(chǎng)反作用于原來(lái)激磁磁場(chǎng)，阻抗發(fā)生變化，然后通過(guò)檢測(cè)電路并進(jìn)行放大，輸出與厚度相對(duì)應(yīng)模擬電壓。為了減少漂移即減少重復(fù)性誤差和提高測(cè)量準(zhǔn)確度，本儀器應(yīng)用智能功能單片機(jī)系統(tǒng)，即對(duì)測(cè)厚過(guò)程中非線性和零漂進(jìn)行校正，因而提高了測(cè)量準(zhǔn)確度。1 微米(μm) = 1 000 納米(nm) = 10000埃

技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)量范圍： 測(cè)量直徑不小于100㎜×200㎜

量程范圍: 0-1000埃

分辨率: 1埃

測(cè)量準(zhǔn)確度: ≤±2%(F.S)

顯示單位：埃和方塊電阻可切換顯示。

儀器尺寸 ：400x320 x 120 mm
重    量  ：7公斤
鍍鋁膜測(cè)厚儀配置：
鍍鋁膜測(cè)厚儀壹臺(tái)，校正片一片，電纜線一根。